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みなさまへ
(公財)九州先端科学技術研究所(九州先端研ISIT)でございます。
本日は、産業技術総合研究所より、JIEP官能検査システム化研究会 第12回公開研究会開催のご案内です。
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JIEP官能検査システム化研究会 第12回公開研究会開催のご案内
産総研コンソ 製造技術イノベーション協議会 第28回インスペクション技術研究会協賛
「IoT時代における検査」
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IoTの到来とともに産業・社会は大きな変革の時を迎えています。さまざまな階層でのつ
ながりによって、製造分野においても新たなビジネスの可能性が大きく広がりを見せていま
す。その一方で、これまで世界最高水準とされてきた日本の高品質・高信頼なものづくり力
が大きく揺らいでおり、根本から見直しを迫られています。現場力を回復させるためのツー
ルや手法、制度などの開発・整備は、喫緊の課題となっています。
本公開研究会では、IoT時代に対応する検査技術として、AIの検査応用を中心に、画像、
音響、及びX線などを用いた最新の検査技術をご紹介します。
講演会終了後には交流会（無料）も予定しています。
皆さまの積極的なご参加をお待ちしております。
主催：エレクトロニクス実装学会 官能検査システム化研究会
協賛：産総研コンソ「製造技術イノベーション協議会」インスペクション技術研究会
◆開催日時：令和元年7月23日（火）〈13：30〜16：50〉
◆会場：回路会館 地下会議室
ＪＲ中央線西荻窪駅下車徒歩約７分
〒167-0042 東京都杉並区西荻北3-12-2 TEL.03-5310-2010
地図 → https://web.jiep.or.jp/about/access.html
◆プログラム
○ 13：00 受付開始
○ 13：30 開会挨拶
○ 13：35〜14：15 一般講演1「画像検査へのAI応用に関する特色や開発の方向性」
名城大学 成田 浩久
○ 14：15〜14：55 一般講演2「画像認識AI「Deeptector (R)」製造業の検品作業への適用」
NTTコムウエア 宮下 直也
○ 14：55〜15：35 一般講演3「薄型AEセンサと機械学習を用いたワイヤボンディングの接合良否判定」
産総研 小石 泰毅
（15：35〜15：50 休憩）
○ 15：50〜16：30 一般講演4「３次元CT方式＋X線ステレオ方式X線検査装置」
アイビット 向山 敬介
○ 16：30〜16：50 フリーディスカッション
○ 16：50 閉会挨拶
○ 17：00〜18：00 技術交流会
※プログラムは変更になることがあります。ご了承ください。
◆定員：100名（先着申し込み順 定員になり次第締め切ります）
〈参加申し込みは当日まで受け付けますが、予稿集などの準備の関係上、
事前登録にご協力をお願いします。〉
参加者の皆様にはご名刺を頂戴いたしますので、ご用意ください。
ご名刺がない場合には、ご記帳いただきます。
◆参加費（予稿集代込み、消費税込み）
JIEP正会員： 5,000円
JIEP賛助会員： 6,000円
JIEPシニア会員： 1,000円
JIEP名誉会員：無料
JIEP学生会員：無料（学生証を受付で提示してください）
非会員：10,000円
非会員学生： 1,000円（学生証を受付で提示してください）
注１）参加費は当日受付で徴収します。つり銭の無いようご準備をお願いします。
注２）賛助会員クーポン券のご利用はできません。
注３）交流会参加は無料ですが、準備の都合上、出欠予定を申込画面の所定欄にご入力ください。
◆申込方法：参加申し込みはこちら↓
https://web.jiep.or.jp/seminar/tcwg/tc11_ase20190723/
登録されますと参加登録完了メールが返信されます。
申し込みをキャンセルされる場合は、参加登録完了メールに記載のキャンセル用URLから入力ください。
◆問合せ先：エレクトロニクス実装学会 事務局
03-5310-2010 ase@jiep.or.jp
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福岡市早良区百道浜２丁目１−２２
事業支援部 メルマガ担当
E-mail：magazine@isit.or.jp
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