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みなさまへ
(公財)九州先端科学技術研究所(九州先端研ISIT)でございます。
本日は、JIEP官能検査システム化研究会 第13回公開研究会開催のご案内です。
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JIEP官能検査システム化研究会 第13回公開研究会開催のご案内
産総研コンソ 製造技術イノベーション協議会 第30回インスペクション技術研究会協賛
「検査に取り組む最新テクノロジー（画像技術からAIまで）」
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本研究会では、実装及び関連の各技術分野における官能検査の自動化・システム化課題について、最新技術の発信、情報交換、および人材交流などを目的として活動しています。
今回は、「検査に取り組む最新テクノロジー（画像技術からAIまで）」をテーマとして、下記の要領で公開研究会を開催します。講演会終了後には交流会（無料）も予定しています。
皆さまの積極的なご参加をお待ちしております。
主催：エレクトロニクス実装学会 官能検査システム化研究会
協賛：産総研コンソ「製造技術イノベーション協議会」インスペクション技術研究会
◆開催日時：令和2年1月21日（火）〈13：30〜17：05〉
◆会場：回路会館 地下会議室
ＪＲ中央線西荻窪駅下車徒歩約７分
〒167-0042 東京都杉並区西荻北3-12-2 TEL.03-5310-2010
地図 → https://web.jiep.or.jp/about/access.html
◆プログラム
○ 13：00 受付開始
○ 13：30 開会挨拶
○ 13：35〜14：15 「外観検査に用いられる透視投影画像の自動生成機構の研究」
立命館大学 石井 明
○ 14：15〜14：55 「ディープラーニング搭載画像認識システムAI Inspector〜AIを外観検査や異物検査に用いるコツ〜」
株式会社トラスト・テクノロジー 山本隆一郎
○ 14：55〜15：35 「トリリオンセンシングにおける画像計測を利用した欠陥検出・評価技術の開発(仮)」
産総研 坂田 義太朗
（15：35〜15：45休憩）
○ 15：45〜16：25 「高感度分光法を用いた非接触のインフラ劣化診断」
産総研 渡部 愛理
○ 16：25〜17：05 「配線板パターン検査装置適用における課題と効果」
日本大学 原 靖彦
○ 17：05 閉会挨拶
○ 17：15〜18：15 技術交流会
注1）プログラムは変更になることがあります。ご了承ください。
◆定員：100名（先着申し込み順 定員になり次第締め切ります）
〈参加申し込みは当日まで受け付けますが、予稿集などの準備の関係上、事前登録にご協力をお願いします。〉
参加者の皆様にはご名刺を頂戴いたしますので、ご用意ください。ご名刺がない場合には、ご記帳いただきます。
◆参加費（予稿集代込み、消費税込み）
JIEP正会員：5,000円
JIEP賛助会員：6,000円
JIEPシニア会員：1,000円
JIEP名誉会員：無料
JIEP学生会員：無料（学生証を受付で提示してください）
非会員：10,000円
非会員学生：1,000円（学生証を受付で提示してください）
注１）参加費は当日会場受付にて、現金にてお支払い願います。つり銭の無いようご準備をお願いします。
注２）賛助会員クーポン券のご利用はできません。
注３）交流会参加は無料ですが、準備の都合上、出欠予定を所定欄にご記入ください。
◆申込方法
参加申し込みはこちら↓
https://web.jiep.or.jp/seminar/tcwg/tc31_ase20200121/
上記URLから登録されますと確認メールが送信されます。
キャンセル用のURLは、登録完了メールに記載されます。
◆問い合わせ先
エレクトロニクス実装学会 事務局 03-5310-2010 ase@jiep.or.jp
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福岡市早良区百道浜２丁目１−２２
事業支援部 メルマガ担当
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URL：http://www.isit.or.jp
TEL：092-852-3460 FAX：092-852-3455
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